01222nbm0a2200289 450 TSI010164920081008222859.0IT2002-1373TTD198720040506f |||y0itay01 baitaIT|||| 0||||Reliability characterization of high-power and high-frequency compound semiconductor devicesdottorato di ricerca in ingegneria dell'informazionedissertazione presentata per il conseguimento del titolo di dottore di ricercaph. d. thesis of Domenico DieciUniversità€ degli studi di Modena e Reggio Emilia, Dipartimento di scienze dell'ingegneria[S.l.][S.n.]20001 v13. ciclo621.312Dieci, DomenicoUniversità€ degli studi<Modena-Reggio Emilia>: Dipartimento di scienze dell'ingegneriaITUOL20040506dBibl. Nazionale Centrale FirenzeCFTDR 2001 01649CF9801016495TDR 2001 01649NBibl. Nazionale Centrale Di Firenze CFTDR 2001 01649 CFTVD980101649 L NOFORTE CFTDTD