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200 1 $aReliability characterization of high-power and high-frequency compound semiconductor devices$edottorato di ricerca in ingegneria dell'informazione$edissertazione presentata per il conseguimento del titolo di dottore di ricerca$fph. d. thesis of Domenico Dieci$gUniversita? degli studi di Modena e Reggio Emilia, Dipartimento di scienze dell'ingegneria
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712 02$aUniversita? degli studi$c<Modena-Reggio Emilia>$b: Dipartimento di scienze dell'ingegneria
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