Non-invasive testing of VLSI circuits : doctoral dissertation / of Alberto Tosi ; advisor: Franco Zappa ; tutor: Andrea Lacaita ; supervisor of doctoral program: Stefano Crespi Reghizzi
2005.
1 v.
In testa al front.: Politecnico di Milano, Dipartimento di elettronica e informazione, dottorato di ricerca in ingegneria dell'informazione
BN 2006-7474T
ING-INF/05 - Sistemi di elaborazione delle informazioni


Tesi di dottorato. | Lingua: Inglese. | Paese: IT. | BID: BNI0019001
Biblioteca Inventario Collocazione Fruizione status
Biblioteca Nazionale Centrale - Firenze TVD980506853 TDR 2005 06853 Lettura tesi in sede
Documenti simili